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產(chǎn)品時(shí)間:2021-04-14
簡(jiǎn)要描述:日本ourstex熒光X射線(xiàn)分析儀OURSTEX 160OURSTEX 160型被?選為東京都政du于2006年3月執行的《環(huán)境安全條例》中用于土壤污染調查(重金屬等)的簡(jiǎn)單快速分析技術(shù)(簡(jiǎn)單分析方法)。
日本ourstex熒光X射線(xiàn)分析儀OURSTEX 160
OURSTEX 160型被?選為東京都政fu于2006年3月執行的《環(huán)境安全條例》中用于土壤污染調查(重金屬等)的簡(jiǎn)單快速分析技術(shù)(簡(jiǎn)單分析方法)。
■用于工廠(chǎng)現場(chǎng)的土壤分析... ●可以進(jìn)行無(wú)損且快速的成分分析?! 窬o湊輕巧,因此可以進(jìn)行現場(chǎng)分析?! 裉岣吡酸槍χ?,重金屬元素的靈敏度?! 馯tility僅適用于A(yíng)C100V-5A?! 裨O備內部是受控區域。
能量色散X射線(xiàn)熒光分析儀用來(lái)自X射線(xiàn)管的原始X射線(xiàn)輻照樣品,并使用半導體檢測器測量產(chǎn)生的X射線(xiàn)熒光,因此無(wú)論樣品的形狀如何,它都是非破壞性的元素定性的。樣品。?進(jìn)行定量分析。
半導體檢測器使用不需要液氮冷卻的電子冷卻的硅漂移檢測器(SDD),并且可以與數字計數電路(DSP)結合使用以測量高分辨率和高計數率。
為了提高分析性能,準備了可以使能量分辨率和半導體檢測器的計數靈敏度z大化的激發(fā)光學(xué)系統的條件。
日本ourstex熒光X射線(xiàn)分析儀OURSTEX 160
測量原理 | 能量色散X射線(xiàn)熒光分析方法 |
測量目標 | 用于土壤分析的環(huán)境樣品(固體/粉末/液體) |
測量元件 | 硫,鉻,砷,硒,鎘,汞,鉛(13 AI- 92 U) |
樣品形狀 | z大78mmφx 55mmH |
樣品室氣氛 | 氣氛 |
X射線(xiàn)額定輸出 | 48kV,2mA高達50W |
探測器 | 電子冷卻的硅漂移檢測器 |
計數電路 | 數字處理方式 |
使用條款 | 溫度:5至27°C 濕度:20至75% 電源:AC100V,5A(50 / 60Hz) 接地:D類(lèi)接地 |
其他(可選) | 噴墨彩色打印機,鼠標 |